X荧光光谱仪
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X荧光光谱仪
产品详情

技术参数

测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:一次性可测24种元素
测量镀层:镀层厚度最薄至0.005微米,可分析3层以上的镀层
分析精度:0.05% (含量高于96%以上的样品)
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s-200s
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50uA-1000uA
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
样品腔体积:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg

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